Question:
La stabilité de l'accéléromètre MEMS se détériore-t-elle avec le temps?
Primož Kralj
2013-03-06 14:52:17 UTC
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Je me demande si, au fil du temps, l'accéléromètre MEMS produit une sortie pire que lorsqu'il est neuf? J'ai trouvé ce document de recherche qui reconnaît que la température affecte la sortie du capteur, mais il n'y a aucune conclusion sur la stabilité de la lecture au fil du temps.

+1. Nous utilisons des capteurs d'inclinaison Onset HOBO depuis environ 1 à 2 ans et n'avons encore rien remarqué. Peut-être que electronics.stackexchange obtiendrait d'autres réponses.
Deux réponses:
Damien
2013-03-10 09:30:50 UTC
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La réponse courte est oui ; ils changent de caractéristiques avec le temps - et je les ai mesurés pour le faire. Sur les conseils du fabricant de l'appareil avec lequel je travaille (dans ce cas, VTI, maintenant une division de Murata), la majeure partie du vieillissement se produit la première année.

En ce qui concerne ce qui change, le plus le biais est évident. J'ai vu une dérive de 3 mg à 10 mg sur le SCA3100, bien que la spécification maximale soit de 30 mg sur sa durée de vie (puisque le biais maximum est spécifié à 70 mg, et le biais sur la température est spécifié à 40 mg). Ce sont des spécifications 6 sigma, donc peu atteindront jamais cette ampleur.

Il n'y a pas de changement évident dans la quantité de bruit. Prenez cette affirmation avec un grain de sel - cette déclaration est "à l'oeil nu" et n'est pas correctement basée sur des données ou des tests statistiques.

En ce qui concerne les autres spécifications (par exemple, facteur d'échelle, sensibilité transverse) , Je n'ai donné aucune donnée, mesure ou sensation intuitive quant à l'ampleur de la dérive, s'il y a effectivement une dérive appréciable.

D'autres appareils, bien sûr, auront des caractéristiques différentes, mais je n'ai pas de données à dire ce qu'ils peuvent être. Je soupçonne que moins l'accéléromètre est bon marché, plus il vieillira avec le temps, mais je n'en ai aucune preuve.

Il y a aussi des changements à court terme ("en cours") du biais, même si la température est parfaitement constante. Si cela vous intéresse, recherchez tous les accéléromètres de variance sur Google pour découvrir les caractéristiques de dérive à rechercher.

placeholder
2013-03-07 22:39:41 UTC
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En ce qui concerne la stabilité, il existe très peu de conceptions d'accéléromètres MEMS dont la stabilité mécanique serait affectée, jusqu'à ce que bien sûr les poutres en porte-à-faux se rompent. Mais c'est assez visible.

Paramétriquement, vous vous attendez à des changements au fil du temps. Vous pouvez voir que lorsque la poutre fléchit, les dislocations auront tendance à migrer vers des zones de contraintes plus élevées, ce qui affectera la conduction dans ces zones. Bien qu'ils soient soigneusement conçus et testés et vieillis pour minimiser l'accumulation de défaillances, rien n'est idéal.Vous devriez donc vous attendre à voir des appareils commencer à avoir des changements de constantes de ressort sur les poutres et peut-être même une nano-fracturation. Ils sont conçus pour durer des millions ou des milliards de cycles, mais ils finiront par échouer et la conduite à l'échec aura certainement des changements paramétriques est peut-être une meilleure façon de le dire.

Beaucoup dépend de la conception du Partie MEMS et partie électrique. Et bien que l'on puisse dire en gros qu'il existe certains mécanismes de défaillance, à moins d'avoir examiné une conception spécifique en détail, vous ne pouvez pas en être sûr. Mais en gros, oui, attendez-vous à des changements.

Les choses auxquelles je m'attendrais généralement sont des changements dans:

  • la sortie vers le changement de coefficient de niveau g
  • linéarité à charge maximale
  • augmentation du bruit de fond
  • décalage de la fréquence de résonance (le cas échéant)


Ce Q&R a été automatiquement traduit de la langue anglaise.Le contenu original est disponible sur stackexchange, que nous remercions pour la licence cc by-sa 3.0 sous laquelle il est distribué.
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